型號概述
主要性能特點
● ?具有 6? 位分辨率，相比同類產品頗具性能優勢
● 支持功率半導體、HBLED、光學器件、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體結溫度檢定；高速、高精度數字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設備測試
● 提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的擊穿和漏電測試以及亞毫秒瞬態檢定
● 支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控制
● 支持精確檢定瞬態和穩態行為，包括快速變化的熱效應
● 可讓多臺 2651A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統
● 為封裝件或晶片級高功率器件的測試提供安全而方便的連接
● 幫助您創建、修改、調試和存儲 TSP 測試腳本
● 在產品開發、質量檢驗或故障分析期間執行封裝件檢定時，充分地提高工作效率
產品應用
● 功率半導體器件特征分析與測試
● GaN、SiC和其它一些復合材料與器件 的特征分析
● 高達3kV的擊穿與漏流測試
● 亞毫秒瞬態特征分析
